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技術(shù)資訊
教學(xué)橢偏儀作為一種重要的光學(xué)測(cè)量工具,廣泛應(yīng)用于研究、材料分析以及工業(yè)測(cè)試領(lǐng)域。在教學(xué)中,不僅能幫助學(xué)生直觀(guān)理解光學(xué)原理,還能加深學(xué)生對(duì)光學(xué)薄膜、表面特性等物理現(xiàn)象的認(rèn)識(shí)。針對(duì)教學(xué)需求設(shè)計(jì)的橢偏儀,通常具備一定的特殊設(shè)計(jì)特點(diǎn),旨在簡(jiǎn)化操作、提高實(shí)用性和適應(yīng)性,幫助學(xué)生掌握科學(xué)實(shí)驗(yàn)方法與數(shù)據(jù)分析技能。教學(xué)橢偏儀的設(shè)計(jì)不同于研究型和工業(yè)型橢偏儀,通常更注重易用性和教育功能。其設(shè)計(jì)理念主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面:1.簡(jiǎn)單易操作需要盡量簡(jiǎn)化操作流程,減少過(guò)多復(fù)雜的設(shè)置,使學(xué)生能夠在較短的...
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隨著半導(dǎo)體技術(shù)的快速發(fā)展,集成電路(IC)的制造工藝變得越來(lái)越精密,尤其是在薄膜沉積和刻蝕等工藝中,厚度控制顯得尤為重要。紅外干涉測(cè)厚儀作為一種高精度的非接觸式測(cè)量工具,在半導(dǎo)體制造過(guò)程中得到了廣泛應(yīng)用。其原理基于紅外干涉現(xiàn)象,通過(guò)反射光波與薄膜表面之間的相位差來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)薄膜厚度的測(cè)量。以下將分析紅外干涉測(cè)厚儀在半導(dǎo)體制造中的應(yīng)用及優(yōu)勢(shì)。1、高精度厚度測(cè)量在半導(dǎo)體制造中,薄膜的厚度對(duì)器件的性能具有直接影響。例如,在光刻、化學(xué)氣相沉積(CVD)、原子層沉積(ALD)等過(guò)程中,薄膜...
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頤光科技為您精選了多款光譜橢偏儀、反射膜厚儀自研產(chǎn)品。光譜橢偏儀ME-L穆勒矩陣橢偏儀ME-L是一款全自動(dòng)高精度穆勒矩陣光譜橢偏儀,擁有行業(yè)前沿的光路調(diào)制技術(shù),采用半導(dǎo)體制冷式探測(cè)器,具有超高靈敏度和極快的信號(hào)采集速度,同時(shí)也包括消色差補(bǔ)償器、雙旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器同步控制、穆勒矩陣數(shù)據(jù)分析等。ME-Mapping光譜橢偏儀ME-Mapping光譜橢偏儀可以滿(mǎn)足大尺寸晶圓的多點(diǎn)自動(dòng)化掃描測(cè)量需求,自定義繪制測(cè)量路徑,支持實(shí)時(shí)顯示膜厚分布以及數(shù)據(jù)匯總。設(shè)備采用雙旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器調(diào)制技術(shù),直接測(cè)...
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橢偏儀在A(yíng)R衍射光波導(dǎo)行業(yè)中的應(yīng)用AR衍射光波導(dǎo)是什么?目前,市面上較成熟的AR光學(xué)顯示方案主要有棱鏡方案、Birdbath方案、自由曲面方案和光波導(dǎo)方案等。各方案都有不同維度上的側(cè)重,但真正滿(mǎn)足AR產(chǎn)品需求的光學(xué)方案其實(shí)并不多。AR光學(xué)顯示方案特點(diǎn)缺點(diǎn)棱鏡方案可實(shí)現(xiàn)全彩顯示,技術(shù)成熟,價(jià)格便宜FOV不夠大,AR體驗(yàn)感不強(qiáng),無(wú)法做成眼鏡形態(tài)自由曲面方案成像色彩飽和、視場(chǎng)角大、功耗較低,體積適中比普通眼鏡更厚、重,外界透光率較低、圖像容易畸變Birdbath方案結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、門(mén)檻低...
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目錄01平板顯示行業(yè)測(cè)量介紹02平板顯示行業(yè)的量測(cè)意義03平板顯示行業(yè)的測(cè)量解決方案01平板顯示行業(yè)測(cè)量介紹平板顯示器件于20世紀(jì)60年代出現(xiàn),主要包括液晶顯示器、發(fā)光二極管、等離子顯示板、電致發(fā)光顯示器等。目前液晶顯示LCD(LiquidCrystalDisplay)與有機(jī)電致發(fā)光顯示OLED(OrganicLight-EmittingDiode)為平板顯示行業(yè)主要顯示技術(shù),占據(jù)行業(yè)絕大部分產(chǎn)值。檢測(cè)是面板生產(chǎn)過(guò)程的必要環(huán)節(jié)。面板顯示檢測(cè)的作用是在面板顯示器件的生產(chǎn)過(guò)程中進(jìn)...
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027-87001728
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